1. 测试设施
1.1. 平行板/TEM 室/GTEM 室
1.1.1. 平行板
平行板传输线由两个平行板组成,一个在另一个之上,顶板的宽度小于或等于底板的宽度。
平行板支持 TEM 波传播,而所有在远场中传播的电磁波都是 TEM 波。
平行板传输线的更一般情况是上板的宽度小于或等于底板的宽度。这种传输线称为带状线。较大的接地平面可确保边缘附近的场线失真较小。底面宽度一般至少需要为带状线的 3 倍。
1.2. 电容和电感
对于平行板传输线而言,有以下这些参数可以计算,
平行板传输线电容计算式
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为相对介电常数; 为真空介电常数; 为平行板宽度; 为平行板间距。
平行板传输线电感计算式
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为相对磁导率; 为真空磁导率; 为平行板间距; 为平行板宽度;
1.2.1. 相速度和波阻抗
由此可以计算相速度,
平行板相速度计算式
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为平行板电容; 为平行板电感。
平行板波阻抗计算式
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为相对磁导率; 为真空磁导率; 为相对介电常数; 为真空介电常数;
平行板特征阻抗计算式
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为平行板电容; 为平行板电感; 为波阻抗; 为信号层与高度的比的倒数。
一般来说,用于测量 TEM 波的条状线之间的介质都是空气,有
条状线的特征阻抗为,
条状线特征阻抗计算式
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为自由空间中的波阻抗; 为条状线的信号层与高度的比
如果其中的电介质是不色散的,那么传输线的特征阻抗和频率无关。
1.2.2. 插入损耗
这里的插入损耗和 RF 的是一个概念。
用 dB 表示的插入损耗
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为功率损耗比。
在这里的功率损耗比是指入射功率与负载功率的比值。
插入损耗计算式
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1.2.3. 电阻匹配网路的电阻计算
电阻匹配网络的目的是让从
对于上面这个电阻匹配网络,有,
引入
条状线匹配网络阻抗计算式
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为条状线的输入阻抗; 为条状线的特征阻抗
1.2.4. 条状线例题
1.3. TEM 小室
TEM 小室是一个放大版的平行板,外部用屏蔽壳包裹住,平行板和外壳之间使用介电系数接近 1 的电介质隔开。电磁波的传播模式也为 TEM 模。
1.3.1. 特征阻抗
#挂起/信息不足TEM 小室特征阻抗计算式
其中
指向原始笔记的链接; 为小室的底面宽度; 为小室的高度;
1.3.2. 最大工作频率
当TEM CELL中电磁波的模式变为
TEM 小室最高工作频率计算式
这里假设了隔板处于非正中位置
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1.3.3. TEM 小室设计
需要满足的基础条件有,
TEM 小室设计条件
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为平行板距离地面的高度; 为 DUT 的高度; 为平行板的宽度; 为 DUT 宽度。
说人话就是,平行板要有测试物的 1.5 倍高,至少要比测试物宽。
根据这个能确定 b 的取值,然后查表(
1.3.4. TEM 小室的优缺点
优点:
- 内部测试不会被外部影响
- 外部不会被内部测试影响 缺点:
- 工作频率从 DC 最高只能到
1.3.5. TEM 小室例题
1.4. GTEM 小室
GTEM 小室是指 G 赫兹 TEM 小室,隔板末端有50欧的负载,并且还需要贴有吸波材料防止反射。能够支持
1.4.1. GTEM 小室的优缺点
优点:
- 工作频率能到数 GHz
- 有屏蔽 缺点:
- 小
- 贵
1.5. 开放区域测试场地 (OATS)
在开放区域中执行测试,确保附近物体不会反射 需要导电接地层 通常在天线与测试对象之间的距离为 3m 和 10m 时进行测试。
1.6. 屏蔽外壳
目的为低发射水平测试提供安静的环境,提供高功率辐射衰减,确保重复性,不受天气影响 缺点,体积大,成本高
1.6.1. 屏蔽有效性
屏蔽有效性计算式
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是入射波与吸波材料的反射损耗; 是吸波材料的吸收系数; 表示吸波材料与透射波交界面处的反射损耗。
屏蔽有效性越大越好。
1.6.2. 吸收系数 A
复传播系数计算式
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表示波传播单位长度后振幅衰减
所以我们可以得到
对于理想导体和良导体有
可以取近似为
良导体的吸收系数
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1.6.2.1. 一些其他的变形
用相对电导率替换电导率、频率替换角频率、材料厚度
用趋肤深度
用相对磁导率和电导率替换(此处
1.6.3. 反射损耗
垂直入射的情况下,透射系数相对于阻抗的关系为,
透射系数计算式
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为入射波的特征阻抗, 为透射波的特征阻抗。
透射波阻抗为,
透射波阻抗计算式
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假设有入射波功率为
反射损耗计算式
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1.6.3.1. 金属屏蔽罩的反射损耗
对于金属有
又由于
1.6.3.2. 材料对入射平面波的反射损耗
入射波的特征阻抗为
1.6.3.3. 材料对入射电场的反射损耗
入射电场的特征阻抗
代入真空光速
1.6.3.4. 材料对入射磁场的反射损耗
类似地,可以计算出入射磁场的特征阻抗:
1.6.3.5. 反射损耗公式总结
入射平面波反射损耗
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为入射平面波频率; 为相对磁导率; 为相对于铜的相对电导率。
入射电场反射损耗计算式
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是电场源到表面的距离; 为入射平面波频率; 为相对磁导率; 为相对于铜的相对电导率。
入射磁场反射损耗计算式
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是电场源到表面的距离; 为入射平面波频率; 为相对磁导率; 为相对于铜的相对电导率。
1.7. 电波暗室
反射率是描述反射电场强度的指标。吸波材料的反射率是入射角、反射角的函数。
1.7.1. 测量吸波材料的反射率
- 测量入射波到理想导电平面(PEC)的反射
- 计算反射电场强度和入射电场强度的比
- 把吸波材料放到 PEC 上,测量反射场强并计算
- 反射率计算
- 重复不同的入射角计算
1.7.2. 吸波材料的种类
1.7.2.1. Dielectric Absorber
轻
高介电损失(考虑复介电系数
无磁性
超宽带
厚
1.7.2.1.1. 相关公式
[[EE6303 例题合集#]]
1.7.2.1.2. 电波暗室使用的 Dielectric Absorber 的一些特性
被造成金字塔型
金字塔的高度决定了对不同频率的吸收率
反射率在 30-50dB 之间
工作频率:数百 MHz 到数 GHz
1.7.2.2. Magnetic Absorber
使用含有磁性的材料(铁氧体、碳、镍)
薄
重
有损耗(不太理解,没损耗还能叫吸波材料么)
窄带
在低频下工作良好
1.7.2.2.1. 相关公式
仍然使用亥姆霍兹方程的解(真好用):
与复介电系数类似,复磁导率的虚部表示介质的损耗。
对于复磁导率
可以计算得到复传播系数的实部:
同样地这里也存在磁场的损耗角正切
1.7.2.2.2. 电波暗室使用的 Magnetic Absorber 一些特性
薄铁氧体陶瓷瓦片
频率范围 30MHz-1GHz
能承受高温和高功率
非常重(每平方米数十 kg)
1.8. 电波暗室的优缺点
1.8.1. 优点
测试物的体积没有限制
可以测量数十 Hz 到 40GHz 甚至更高
支持电场、磁场和平面波测量
屏蔽效率大于 100dB,能支持高功率辐射测量,低辐射泄漏
1.8.2. 缺点
为了覆盖频率、照射角和极化方向需要的时间很长
如果要测量更大的物体和更长的测试距离,需要更大的暗室
非常贵
1.9. 模式搅拌/电波混响室
1.9.1. 最低可用频率 LUF
LUF 是最低谐振频率的大约 4 倍
最低谐振频率的定义:
其中
1.9.2. 品质因数 Q 值
定义:
其中
其中
其中
对于测量到的
1.9.3. 房间增益
定义为:
1.9.4. 测量到的电场
定义为:
2. 测试设备
2.1. EMI 接收机
EMI 接收机用于测量 EUT 的辐射。
2.1.1. 窄带信号
信号载波与接收机接收频率相同的情况下,3dB 带宽小于接收机 3dB 带宽的信号被定义为窄带信号。
一般是CW连续波,调制后且带宽小于接收机带宽的CW连续波信号
2.1.2. 宽带信号
信号载波与接收机接收频率相同的情况下,3dB 带宽小大于接收机 3dB 带宽的信号被定义为窄带信号。
窄脉冲(冲激函数)、时钟信号(谐波分量大,频谱图为sinc函数的包络)、UWB脉冲(超宽带脉冲)
2.1.3. 检波器
从已调信号中检出调制信号的过程称为解调或检波。接收机的检波器一般用来测量目标信号的功率或者电压。对于没有调制的信号(CW连续波),所有检波器必须输出相同的RMS值。
连续波信号的均方根计算式
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连续波的峰值幅度; 是连续波的周期 是连续波的角频率;
检波器具有以下类型,Peak Detector (PK),Quasi Peak Detector (QP),Root Mean Square Detector (RMS),Average Detector (AV)
2.1.3.1. 峰值检波器(PK)
峰值检波器
电路中的
用于提供极大的放电时间常数。 特点
充电的时间常数极小,放电的时间常数非常长,显示的是与脉冲重复无关的峰值,显示出的最大幅度:PK>QP, RMS
充放电特性
在讨论特性前,我们先对充放电的时间进行定义,
为信号脉冲宽度,也就是充电时间; 为脉冲重复间隔,可以理解为脉冲的周期时间; 为放电时间。 对于理想二极管,它没有内阻,所以电容两端的电压会瞬间充电到
。对于真实的二极管,它有内阻 r ,充电时会有一段上升时间(忽略二极管压降),下面给出对于真实二极管进行建模的电容充电时电压。
充电时(
)电容两端的电压, 峰值检波器电容充电特性计算式
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为给电容充电的电压,在第一个脉冲处为 ; 为放电结束电压; 为二极管内部阻抗; 为充电时间, ; 为电容充电常数 在
时,二极管反偏,电容开始放电, 峰值检波器电容放电特性计算式
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为电容放电开始时的初始电压; 为电容放电时间, ; 为电容放电常数 规格
一般用充放电常数的比来对 PD 的规格进行规定。
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2.1.3.2. 准峰值检波器(QP)
准峰值检波器
准峰值检波器一般用于
以上的频率 充电速度快和相对长的放电时间常数
读数受到脉冲重复频率的影响
脉冲重复频率定义式
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为脉冲重复间隔时间
充放电特性
以脉冲开始为原点算充电特性:
准峰值检波器充电特性计算式
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为电容充电电压; 以脉冲结束为原点算放电特性:
QP 检波器的输出收到脉冲宽度和脉冲间隔的影响,脉冲宽度影响电容充电程度;脉冲间隔影响电容放电程度。
功能
准峰值检测器可以被视为加权检测器,它不仅测量干扰信号的峰值幅度,还测量重复间隔。短重复间隔信号将具有高重复率,从而产生更“烦人”的干扰效应。
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2.1.3.3. 其他检波器
2.1.3.3.1. 包络检波器
极小的充电和放电时间常数,跟随信号的包络。
2.1.3.3.2. 均方根检波器(RMS)
均方根检波器
测量信号包络的均方根值。
适用于会被热效应影响的设备。
输出为,
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2.1.3.3.3. 平均值检波器(AV)
平均值检波器
测量信号包络的平均值。
对于有着长积分时间的设备适用。
输出电压的关系为:
但是从这里看,应该是信号瞬时 RMS 值的平均值,不是很懂老印的绕法。绕来绕去已经糊涂了。
对于上述两个检波器,有:
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2.2. 天线
天线用于辐射测试。一般而言,天线的增益都是在远场中测量,但是 EMI 检测却是在近场进行。
EMI 一般在 E 场/H 场和接收电压下工作,而不是在辐射强度和接收功率下工作。
由此需要重新定义一套天线参数,
- 天线系数(AF)
- 发射天线系数(TAF)
2.2.1. 天线系数
天线系数定义式
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这个描述的是电场在接收天线的负载上产生单位电压的情况。很明显这边假设的是极化与天线是匹配的,并没有考虑极化损耗。天线系数越小,相同电场强度的情况下接收到的电压越高。
2.2.1.1. 线天线
如果电场强度为
20kHz:
20MHz:
2.2.2. 发射天线系数
其中
对于同一个天线,AF 和 TAF 不一样
2.2.2.1. 对数周期天线
对数周期天线可以在很宽的频率上产生强电场。
如果输入功率为 10W,频率 22MHz,1m 处产生的场强为 10V/m,可以计算得到:
假设是 50 欧负载,输入天线的电压为:
所以
用 dB 做法也可以:
2.2.2.2. 环形天线(磁场天线)
感应电压 (Induced Voltage):
2.2.3. 和
2.2.4. Antenna Example 1 作业形式
3. ESD
由高静电场引起的静电电荷的快速、自发转移。当两个具有不同静电势的物体相互靠近时,电荷会流过它们之间的火花。
最常见的是由两种材料(可能相似或不同)接触和分离而产生,尽管不同的材料往往会释放更高水平的静电荷。
3.1. ESD 的危害
ESD 会造成电子器件损坏,严重的可能引起火灾。
3.2. 静电电势和电流
用以下的公式计算静电的电荷量。
电荷量计算式
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为电容; 为电势。
静电释放实际上就是电容器的击穿。假设静电在
电容电流计算式
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是流过电容的电流; 是电容的电容量; 是电容两端电压的导数。
影响静电电压和电流的因素,
- 电荷转移(摩擦起电)很复杂,取决于:
- 接触面积
- 分离速度
- 相对湿度 - 空气中的水分含量往往会降低地板、地毯、桌垫等的表面电阻,因为湿颗粒会产生模糊的表面电阻。绝缘表面上的导电薄膜。即高相对湿度意味着较低的电荷累积
- 材料的化学性质
- 表面功函数等。
3.3. 示例计算
3.4. ESD 耦合
3.4.1. ESD 电流的磁场耦合
磁场强度有,
距离导线远 d 处的磁场强度计算式
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通过导线的电流; 距离导线的距离。
磁通量密度有,
磁通量密度计算式
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为磁导率; 为磁场强度; 为电流; 为距离导线的距离。
磁场感应电压为,
磁场感应电压计算式
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为磁通量;