内部噪声有以下的类型 热噪声（thermal noise）：由随机的电子热运动产生； 散粒噪声 （shot noise）：电荷载流子（空穴、电子）随机跨过势垒时产生； 闪烁噪声（flick noise）。由缺陷随机捕获和发射电荷调节器件的导通。例如：MOS 器件中的陷阱。 爆米花噪声（popcorn noise）：有源器件中的电流突发。 闪烁噪声的一种，但个别事件得到解决 热噪声始终存在。散粒、闪烁、爆米花噪声要求有电流流过。